手上有几片Flash，想要清空并测试Flash的坏块情况，用的安国的au6889-gtc，
如果选“全新+AA55” 0ECC，好几片都是会提示坏块过多无法量产
选择“全新+AA55” 4ECC，都能量产成功，大概10多坏块，但是用urwtest测试会有很多错误。
然后我觉得应该是Flash坏块过多了
但是后来顺手选了一次“全新”来量产，非常顺利的成功了，大概也是10多坏块，然后用urwtest测试完全没问题。
求问下这个是啥原因啊，为什么AA55过不了但是全新反而能过，而且能过urwtest测试呢？
如果选“全新+AA55” 0ECC，好几片都是会提示坏块过多无法量产
选择“全新+AA55” 4ECC，都能量产成功，大概10多坏块，但是用urwtest测试会有很多错误。
然后我觉得应该是Flash坏块过多了
但是后来顺手选了一次“全新”来量产，非常顺利的成功了，大概也是10多坏块，然后用urwtest测试完全没问题。
求问下这个是啥原因啊，为什么AA55过不了但是全新反而能过，而且能过urwtest测试呢？